AEC車載電子元器件應力認證振動沖擊測試介紹
AEC系列振動、沖擊測試的目的
AEC系列振動測試旨在評估電氣設備中使用的部件。它的目的是確定部件承受由運輸或現場操作產生的運動引起的中等到嚴重振動的能力。這種類型的振動可能會干擾工作特性。特別是重復的應力會導致部件疲勞破壞。這是一種用于部件鑒定的破壞性試驗。
振動、沖擊測試的夾具設計及其要求
振動、沖擊試驗中夾具的主要功能是將振動、沖擊臺產生的能量傳遞給試件，一個好的夾具應至少滿足下列要求：
1) 能方便的將試件固定到臺面上;
2)在整個試驗頻率范圍內，夾具的頻響特性要平坦，夾具的第一階固有頻率應高于最高試驗頻率，還應避免夾具與產品的共振耦合;
3)夾具與產品的連接面上的各個連接點的相應要盡量一致，以確保試驗時的激勵輸入的均勻性;
4)夾具的剛度和質量比要足夠大。
AEC系列振動測試標準及測試條件
接受條件：0失效
測試方法：JEDEC JESD22-B103
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標準 |
測試對象 |
測試數量 |
測試條件 |
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AEC Q100 |
集成電路 |
15 |
20Hz~2000Hz~20Hz(對數掃頻)>4min，每軸向4次;峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
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AEC Q101 |
離散半導體 |
僅針對密封件 |
20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g; |
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AEC Q102 |
離散光電半導體器件 |
3批次中各取10個 |
20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g; |
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AEC Q103-002 |
微機電系統(MEMS)壓力傳感器器件 |
3批次中各取39個 |
M1等級：20Hz~2000Hz~20Hz(對數掃頻)>4min，每軸向4次;峰值加速度50g M2等級：10Hz~2000Hz~10Hz(對數掃頻)>4min，每軸向4次;峰值加速度50g 備選方案：由任務文件制定 |
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AEC Q103-003 |
微機電系統(MEMS)麥克風器件 |
3批次中各取12個 |
20Hz~2000Hz~20Hz(對數掃頻)<12min，每軸向4次;峰值加速度20g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
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AEC Q104 |
多芯片模塊(MCM) |
15 |
20Hz~2000Hz~20Hz(對數掃頻)>4min，每軸向4次;峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
AEC系列沖擊測試標準及測試條件
接受條件：0失效
測試方法：JEDEC JESD22-B110
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標準 |
測試對象 |
測試數量 |
測試條件 |
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AEC Q100 |
集成電路 |
15 |
僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續時間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進行。 |
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AEC Q101 |
離散半導體 |
僅針對密封件 |
1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要測試電氣參數 |
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AEC Q102 |
離散光電半導體器件 |
3批次中各取10個 |
1500g,0.5ms，5擊，3次/方向。
在MS前和MS后的測試，或僅在CA前和MS后進行測試。 |
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AEC Q103-002 |
微機電系統(MEMS)壓力傳感器器件 |
3批次中各取39個 |
M1級：
•測試條件：每軸雙向5個脈沖，0.3ms持續時間，6000g峰值加速度等級M2：
•測試前：下列每次測試#G3的恒定加速度(CA)
•測試條件：每軸雙向10個脈沖，0.3ms持續時間，6000g峰值加速度
替代測試條件：依照任務剖面(安裝位置定義的機械條件)
室溫下MS前后測試。
后測試：IV(PS11)和WBP(C2)進行5個裝置的測試。 |
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AEC Q103-003 |
微機電系統(MEMS)麥克風器件 |
3批次中各取12個 |
3個脈沖，0.5毫秒持續時間，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進行震動前后測試。 |
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AEC Q104 |
多芯片模塊(MCM) |
15 |
僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續時間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進行。 |
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